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詳細介紹
BeNano 180 Zeta Pro納米粒度及Zeta電位儀是BeNano90 + BeNano180 + BeNano Zeta三合一的頂級光學檢測系統。該系統中集成了背向+90°動態光散射DLS、電泳光散射ELS和靜態光散射技術SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。
| 粒徑測試 | 粒徑范圍 | 0.3nm-15μm★ |
| 樣品量 | 3μL-1mL★ | |
| 檢測角度 | 173° & 90° & 12° | |
| 分析算法 | Cumulants、通用模式、CONTIN | |
| 濃度上限 | 40% w/v★ | |
| Zeta電位測試 | 技術 | 相位分析光散射 |
| 檢測角度 | 12° | |
| Zeta范圍 | 無實際限制 | |
| 電泳遷移率范圍 | >±20um.cm/v.s | |
| 電導率范圍 | 0-260mS/cm | |
| 最小樣品量 | 0.75mL-1.0mL | |
| Zeta測試粒徑范圍 | 2nm-110μm | |
| 分子量測試 | 分子量范圍 | 342Da-2×107Da★ |
| 趨勢測量 | 模式 | 時間和溫度 |
| 粘度測試 | 粘度范圍 | 0.01cp-100cp★ |
| 系統參數 | 溫控范圍 | -10°C-110°C，精度±0.1°C |
| 激光光源 | 50mW高性能固體激光器，671nm | |
| 相關器 | 最多4000通道，1011動態線性 | |
| 檢測器 | APD，高性能雪崩光電二極管 | |
| 光強控制 | 0.0001%-100%，手動或自動 | |
| ★取決于樣品和選件 | ||
顆粒體系的光強、體積、面積和數量分布
顆粒體系的Zeta 電位及其分布
分子量
分布系數PD.I
擴散系數D
流體力學直徑DH
顆粒間相互作用力因子kD
溶液粘度
動態光散射
靜態光散射
電泳光散射
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